大電(dian)流發(fa)生器應用及(ji)工作原理

電(dian)力系統許多(duo)大電(dian)流電(dian)氣設備在預防性試驗(yan)和(he)交接試驗(yan)中需要準確測量回路的電(dian)阻(zu)值。斷路器是電(dian)力系統重要的電(dian)氣設備，國(guo)標GB763、GB50150和電力行業標準DL/T596對斷路器導電回路電阻的測量均作了規定：應采用直流壓降法測量，電流不小于100A。

大電(dian)(dian)流發生器斷路(lu)器導(dao)電(dian)(dian)回(hui)路(lu)的電(dian)(dian)阻(zu)(zu)主要取決(jue)于斷路(lu)器的動、靜(jing)觸(chu)頭間的接(jie)觸(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)。接(jie)觸(chu)電(dian)(dian)阻(zu)(zu)的存在，增加了導(dao)體(ti)在通電(dian)(dian)時的損(sun)耗(hao)，使接(jie)觸(chu)處的溫 度(du)(du)升高，其(qi)值的大(da)小(xiao)直接影響正常工作時的載流(liu)能(neng)力，在一定程度(du)(du)上影響短(duan)路電(dian)流(liu)的切斷(duan)能(neng)力。因此，斷(duan)路器(qi)每相導電(dian)回路電(dian)阻值是斷(duan)路器(qi)安裝、檢修和質量驗收的 一項重要數據。

接觸電阻的(de)測量有許多種方法。日本學(xue)者IsaoMinowa提出用超導量子器件測量接觸電阻，H.Archi提出利用電解槽 法測量接觸電阻，波蘭學者JerzyKaczarek提出用三次諧波法測量接觸電阻，這些方法一般是在實驗室條件下進行電接觸研究所采用的方法。工程中， 通常采用四端子法來測量實際觸點的接觸電阻

以前，通常(chang)采用直流雙(shuang)(shuang)臂(bei)電(dian)橋測(ce)量(liang)(liang)斷路(lu)器的接觸電(dian)阻(zu)。但是，當使用雙(shuang)(shuang)臂(bei)電(dian)橋進行斷路(lu)器導電(dian)回(hui)路(lu)電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)(liang)時，由于(yu)雙(shuang)(shuang)臂(bei)電(dian)橋測(ce)量(liang)(liang) 回路通(tong)過的是微弱的電(dian)(dian)流，難以(yi)消除電(dian)(dian)阻(zu)較大(da)的氧化(hua)膜，測出的電(dian)(dian)阻(zu)示(shi)值偏大(da)，但氧化(hua)膜在大(da)的電(dian)(dian)流下很容(rong)易(yi)被擊穿(chuan)，不(bu)妨(fang)礙正常電(dian)(dian)流通(tong)過。因(yin)此，測試(shi)采用直流壓 降法測試時，電流不(bu)得太小。

大電流發生器(qi)測量斷路(lu)器(qi)在回路(lu)電阻中(zhong)的作用。

電(dian)力系統(tong)許多大電(dian)流電(dian)氣設(she)備在預防性試(shi)驗和交接試(shi)驗中(zhong)需要準確(que)測量回路的電(dian)阻值。斷(duan)路器是(shi)電(dian)力系統(tong)重(zhong)要的電(dian)氣設(she)備，國(guo)標 GB763、GB50150和電力行業標準DL/T596對斷路器導電回路電阻的測量均作了規定：應采用直流壓降法測量，電流不小于100A。斷路器導電 回路的電阻主要取決于斷路器的動、靜觸頭間的接觸電阻。

大(da)電流發生器接(jie)(jie)觸(chu)電阻(zu)的(de)存(cun)在，增加了導體(ti)在通電時的(de)損(sun)耗，使接(jie)(jie)觸(chu)處的(de)溫度升高，其值(zhi)的(de)大(da)小直接(jie)(jie)影(ying)響正常工(gong)作(zuo)時的(de)載(zai)流能力(li)，在一(yi)定(ding)程度上影(ying)響短路電流的(de)切斷(duan)能力(li)。因此，斷(duan)路器每相導電回(hui)路電阻(zu)值(zhi)是斷(duan)路器安裝、檢修和質量驗收的(de)一(yi)項重要數據。

以(yi)前，通(tong)常采(cai)用直流雙臂(bei)電(dian)橋(qiao)測(ce)量(liang)(liang)斷(duan)(duan)路(lu)(lu)器(qi)的接觸(chu)電(dian)阻(zu)。但是，當(dang)使用雙臂(bei)電(dian)橋(qiao)進行斷(duan)(duan)路(lu)(lu)器(qi)導電(dian)回(hui)路(lu)(lu)電(dian)阻(zu)的測(ce)量(liang)(liang)時，由于雙臂(bei)電(dian)橋(qiao)測(ce)量(liang)(liang) 回(hui)路通(tong)過的(de)是微(wei)弱的(de)電流(liu)(liu)，難(nan)以消除電阻較大(da)的(de)氧化膜(mo)，測(ce)出的(de)電阻示值偏(pian)大(da)，但氧化膜(mo)在大(da)的(de)電流(liu)(liu)下很容(rong)易被擊穿，不(bu)妨(fang)礙(ai)正常(chang)電流(liu)(liu)通(tong)過。因此，測(ce)試采用直流(liu)(liu)壓 降(jiang)法測試(shi)時(shi)，電(dian)流不得太小。

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